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xray檢測(cè)
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X射線檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)LED燈條內(nèi)部缺陷的方法
發(fā)布時(shí)間:2022-05-19 11:21:21

隨著市場(chǎng)行業(yè)的迅速發(fā)展,電視機(jī)、電腦、汽車等行業(yè)對(duì)影響產(chǎn)品質(zhì)量的LED燈條板生產(chǎn)工藝提出了越來(lái)越高的要求。其中,芯片是LED最關(guān)鍵的一環(huán),直接決定了LED的性能。特別是用于汽車或固態(tài)照明設(shè)備的高端LED,**不容許產(chǎn)品質(zhì)量出現(xiàn)缺陷,對(duì)此類設(shè)備的可靠性要求非常高。

X-RAY檢測(cè)設(shè)備

X-RAY檢測(cè)系統(tǒng)的基本原理為X射線的穿透性不同于其他的化學(xué)物質(zhì)。根據(jù)光學(xué)原理,如果LED燈條中的線繞保險(xiǎn)絲存在缺陷,它將改變物體對(duì)射線的衰減,引起X-RAY檢測(cè)設(shè)備射線強(qiáng)度的變化。當(dāng)線繞保險(xiǎn)絲內(nèi)部發(fā)生拉伸或者斷裂時(shí),有缺陷部位的x射線強(qiáng)度要高于無(wú)缺陷部位的X射線強(qiáng)度。

X射線的光學(xué)原理:X-RAY檢測(cè)系統(tǒng)的基本原理為X射線的穿透性不同于其他的化學(xué)物質(zhì)。根據(jù)光學(xué)原理,如果LED燈條中的線繞保險(xiǎn)絲存在缺陷,它將改變物體對(duì)射線的衰減,引起X-RAY檢測(cè)設(shè)備射線強(qiáng)度的變化,當(dāng)線繞保險(xiǎn)絲內(nèi)部發(fā)生拉伸或者斷裂時(shí),有缺陷部位X射線強(qiáng)度要高于無(wú)缺陷部位的X射線強(qiáng)度。

X-RAY檢測(cè)

故障檢測(cè)方法:X-RAY檢測(cè)設(shè)備通過(guò)穿透樣品、檢測(cè)樣品內(nèi)部缺陷,是當(dāng)前非破壞檢測(cè)內(nèi)部缺陷效率且快速的方法只要。LED燈條板的主要故障集中在綁定金線。利用X-RAY檢測(cè)設(shè)備對(duì)LED燈條檢測(cè)并生成的影像圖,可以清楚的看到LED燈條內(nèi)部金線的位置以及有無(wú)開路、短路等異常。



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