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近幾年來，X-RAY射線三維透視成像檢測技3D X-RAY取到了迅猛發展，并一步步發展為高集成度電子器件制造行業必備的檢測方式。

X光三維透視成像檢測技術相較于傳統X射線二維成像檢測X-RAY，它能夠全方位無盲區再現被測物內部構造，不會有結構影像重疊現象，以二維斷層圖像或三 維立體圖像的形式，對瑕疵精確定位和判定，信息完善，在微納制造技術、電子器件科學等領域有非常重要和普遍的運用。

BGA元件在焊接完成之后，因為其焊點被元件本身所遮蓋，因而不能用傳統目測方式檢驗焊點的焊接品質，也不可以運用自動光學檢測儀器對焊點的表面做品質判斷。為達到有用的檢測，可以用X-ray檢測儀器對BGA元件的焊點進行三維結構檢驗。BGA焊球的規格、外形、色調和飽和度勻稱一致，焊球內部結構瑕疵清楚可見。

3D X-ray三維透視成像使得電子器件生產制造品質檢測方式引發了新的變革，這是現階段渴求進一步提升生產制造技術水平、提高生產制造品質，并及時處理電子器件組裝問題作為解決突破口的生產商的選擇，伴隨著電子元器件封裝的發展，其他檢測裝備故障的方式因為其局限性而舉步維艱，X光三維透視成像檢測儀器將變成電子元器件封裝生產設備的新焦點，并在其生產制造領域中起著重要作用。

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