每年的3月15日是國(guó)際消費(fèi)者權(quán)益日,始終提醒公司和企業(yè)注意產(chǎn)品質(zhì)量并保護(hù)消費(fèi)者權(quán)益。食品中存在異物,侵犯了消費(fèi)者的合法權(quán)益。中國(guó)的有關(guān)法律法規(guī)規(guī)定,在生產(chǎn)不符合食品安全標(biāo)準(zhǔn)的食品時(shí),消費(fèi)者除了賠償損失外,還可以要求生產(chǎn)者或銷(xiāo)售者賠償價(jià)格的十倍。但是,這種情況時(shí)有發(fā)生。不可否認(rèn),生產(chǎn)企業(yè)沒(méi)有控制食品的安全生產(chǎn)。更重要的是,它應(yīng)追溯到源頭,從食品的生產(chǎn)和加工中發(fā)現(xiàn)問(wèn)題,并避免異物繼續(xù)進(jìn)入食品。
IC芯片X射線(xiàn)檢查裝置是專(zhuān)用于檢查IC芯片的內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢查裝置。 IC芯片相對(duì)準(zhǔn)確,主要由微電子設(shè)備或組件組成。它使用某種過(guò)程將晶體管,二極管,電阻器,電容器和電感器以及其他組件和電路所需的布線(xiàn)分成小塊或小塊。然后將半導(dǎo)體晶片或介電襯底包裝在包裝中,以成為具有所需電路功能的微結(jié)構(gòu)。
其中,所有組件都已集成到一個(gè)結(jié)構(gòu)中,使電子組件朝著低功耗和高可靠性邁出了一小步。但是電路越精確,檢測(cè)難度就越復(fù)雜。當(dāng)前常用的芯片檢查方法通常是剝離芯片的各層,然后使用電子顯微鏡拍攝每一層的表面。這種檢測(cè)方法對(duì)芯片極具破壞性。
芯片是一種相對(duì)精密的電子元器件,質(zhì)量檢測(cè)設(shè)備的精度非常高。 X射線(xiàn)檢查設(shè)備主要依靠?jī)?nèi)部的X射線(xiàn)管發(fā)射X射線(xiàn)以照射成像的IC芯片,并且X射線(xiàn)具有光敏作用。 X射線(xiàn)可使膠片與可見(jiàn)光一樣敏感。膠片的靈敏度與X射線(xiàn)量成正比。當(dāng)X射線(xiàn)穿過(guò)IC芯片時(shí),芯片的每個(gè)組織的密度都不同,因此X射線(xiàn)吸收率也不同。靈敏度不同,因此獲得了X射線(xiàn)圖像。 X射線(xiàn)檢查基本上不會(huì)對(duì)IC芯片造成任何損壞,因此X射線(xiàn)除了醫(yī)療以外,還廣泛用于電子工業(yè)產(chǎn)品領(lǐng)域。
食品生產(chǎn)和加工需要經(jīng)過(guò)數(shù)十個(gè)過(guò)程,其中涉及許多食品加工設(shè)備。不排除由于長(zhǎng)期工作而導(dǎo)致食品設(shè)備磨損,破裂或掉落,導(dǎo)致金屬,塑料,碎屑,螺釘,刀,玻璃和其他異物混入生產(chǎn)中,或者原材料可以安全攜帶異物進(jìn)入錯(cuò)誤的地方。因此,許多食品加工企業(yè)都引入了X射線(xiàn)異物檢測(cè)機(jī)。
X射線(xiàn)異物探測(cè)器它是利用X射線(xiàn)穿透能力對(duì)產(chǎn)品成像,然后該軟件對(duì)圖像進(jìn)行分析,區(qū)分和區(qū)分,及時(shí)而準(zhǔn)確地去除金屬和非金屬等食物,并防止“有問(wèn)題的食物”流入市場(chǎng)。 。X射線(xiàn)異物探測(cè)器金屬異物檢測(cè)機(jī)的最大優(yōu)點(diǎn)是可以檢測(cè)密度比金屬高的非金屬異物,同時(shí)識(shí)別產(chǎn)品缺陷,如包裝缺陷,裂紋,氣泡等,從而可以充分保證產(chǎn)品的安全性。
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