健身房私教C弄了好几次,99久久精品费精品国产一区二区,AAA级精品无码久久久国产片,高H粗口调教羞辱SM文女王

xray檢測
當前位置:首頁 >> 新聞資訊 >> 展會資訊
聚焦NEPCON 2024,日聯與您探索EMS電子智檢新境界
發布時間:2024-11-08 09:21:01

1.png

日聯科技作為行業佼佼者,此次攜自研X-ray核心部件與技術成果亮相NEPCON 2024亞洲電子展,旨向全球展示在工業X射線智能檢測領域的創新實力。

 1731029221935498.png

展會期間,日聯科技全方位地展示了企業在X-ray核心部件微焦X射線源、高精密智能檢測AXI及圖像增強、AI智能判定等方面取得的**研發成果。

1731029196382277.png

1731029167131218.png

 1731029140135369.png

這些創新技術和產品針對PCBA制程、半導體封測、電子元器件組裝等檢測需求,提供高效、精準的產品質量控制解決方案,助力企業優化供應鏈,提升市場競爭力。

1731029122186539.png

 1731029106659050.png

同時,公司在趣味的氛圍下為嘉賓分享**的技術進展和未來規劃,與行業同仁共同探討電子智造的未來發展路徑。

1731029073297745.png

 1731029054109045.png

隨著電子智檢的快速發展,日聯科技將繼續加大研發投入,不斷創新技術和產品,為客戶提供更加優質、高效的服務。此次參展NEPCON 2024亞洲電子展,正是日聯科技踐行創新理念、推動產業升級的步伐。

1731029024156786.png

*本站部分文字及圖片均來自于網絡,如侵犯到您的權益,請及時通知我們刪除。聯系信息:聯系我們